1450339200
Наша предыдущая методика тестирования внутренних накопителей (2012 года) долгое время вполне удовлетворяла потребностям исследования производительности различных накопителей. Однако чем далее, тем более она устаревала. В плане оборудования зафиксированная три года назад система, например, не поддерживает интерфейс PCIe 3.0, который уже нужен некоторым твердотельным накопителям, а полезная им же встроенная поддержка NVMe со стороны операционной системы отсутствует в случае применявшейся Windows 7. Кроме того, обновились и тестовые программы, что особенно важно в случае тестов высокого уровня — низкоуровневые параметры устройств, разумеется, измеряются как прежде. В общем, необходимость модернизации и аппаратной, и программной составляющих тестового стенда назрела. Пользуясь случаем, мы решили изменить и идеологическую составляющую. В частности, мы всегда ориентировались на RAID-режим контроллера, но собственно дисковые массивы тестировать приходилось редко. Также уменьшилось количество тестов внешних устройств, так что решено было сделать универсальную тестовую методику: набор тестов будет немного меняться в зависимости от типа накопителя, но общие точки все равно будут всегда.