Методика тестирования флэшдрайвов, карт памяти и картоводов образца 2013 года

1406088000
Вслед за новыми методиками тестирования внутренних накопителей и внешних винчестеров настало время обновить и методику тестирования флэшдрайвов, карт памяти и картоводов. Причины для перехода — те же, что и в предыдущих двух случаях. Во-первых, прежняя версия методики, опубликованная и внедренная еще в 2009 году, порядком устарела как в плане используемого программного обеспечения, так и по аппаратной конфигурации тестового стенда. Во-вторых, собственно стенды ранее тоже были разными для накопителей разного типа, что затрудняло прямое сравнение тестируемых продуктов (при необходимости такового). Именно эти две проблемы мы и решили устранить в новых версиях методик, ставших «сквозными». В остальном же подход к тестированию не меняется, благо некоторые общие подходы за последние четыре года не устарели, и вряд ли это случится в обозримом будущем.